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光電測(cè)量技術(shù)

 不想1 2010-08-30

光電測(cè)量技術(shù)

 

 1) Twyman-Green干涉實(shí)驗(yàn)(a/b)
 2) 傅里葉變換光學(xué)
 3) 散斑干涉實(shí)驗(yàn)
 4) 共焦測(cè)量實(shí)驗(yàn)
 5) 納米測(cè)量光學(xué)實(shí)驗(yàn)
 6) 激光斑紋照相
 7) 硅光電池特性測(cè)量
 8) 光學(xué)系統(tǒng)特性參數(shù)分析
 9) 光電傳感器系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)(a/b)*
10) 縫寬或間隙的衍射測(cè)量*
11) 微孔直徑的衍射測(cè)量*
12) 形變的全場(chǎng)衍射測(cè)量*
13) 速度測(cè)量與震動(dòng)監(jiān)視*
14) 散斑編碼及圖像處理方法**
 

 

光電測(cè)量技術(shù)

 

光的波動(dòng)性:干涉

 

   眼睛、照相干板

 

光信息的光電探測(cè):電光效應(yīng)

 

   光電能量探測(cè)器

 

   CCD/CMOS探測(cè)器

 

微機(jī)械控制:精密機(jī)械、光學(xué)元件

 

   光學(xué)調(diào)節(jié)架-位移控制

 

 

CSY10L型實(shí)驗(yàn)課件

 

 

CSY10L主要實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目

 
  • Twyman-Green干涉儀

  • Fourier變換光學(xué)

  • 光纖雙臂干涉?zhèn)鞲衅?

  • 激光散斑

  • 共焦測(cè)量方法

  • 納米位移測(cè)量

  • 光柵莫爾條紋微位移測(cè)量

 

 

Michelson干涉儀

 

 

Twyman-Green干涉儀

 

 

Fabry-Perot 干涉儀

 

 

Mach-Zehnder 干涉儀

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